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日本菊水TOS7210S PID绝缘测试仪
日本菊水TOS7210S PID绝缘测试仪
PID绝缘测试仪(TOS7210S)是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估,以绝缘电阻测试仪(TOS7200)为基础设计而成的测试仪。
TOS7210S日本菊水TOS7210S PID绝缘测试仪的详细资料
日本菊水TOS7210S PID绝缘测试仪
PID绝缘测试仪(TOS7210S)是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估,以绝缘电阻测试仪(TOS7200)为基础设计而成的测试仪。
附有极性切换功能,输出电压可达2000V,同时装载了n*分辨率的电流表,因此不仅可以进行PID评估,还可以用于要求进行高敏感度测试的绝缘体评估测试。标准安装了可从外部调用的面板存储器及RS232C接口,因此也可以灵活对应自动化系统。
什么是PID现象?日本菊水TOS7210S PID绝缘测试仪
PID现象是指太阳能电池与边框长期被施以高电压,电池发电量显著降低的现象。目前认为所施加的电压越高,越是在高温、高湿的环境下劣化现象越严重。如晶体硅太阳能电池模块的输出电压即使只有数十V,一旦直接连接的片数增加,串内的电位差将变得非常高。一方面,PCS(Power Conditioning System)作为交流电源与系统相连,使接地形态发生变化。输入端采用浮接(一侧电极不能接地线)的无变压器方式近年有所增加。这种情况下电池和地线间将发生高电位差。现在可明确的是,晶体硅太阳能电池模块中,相对于边框(接地线)负极电位高的电池容易发生PID现象。(请参照图1)目前,日本国内以zui大600V、欧洲以zui大1000V的系统电压运行太阳能电池模块,但是目前出现了提高zui大系统电压以削减企业用大规模太阳能发电系统的串数、PCS总数,提高发电效率的趋势。
图2模拟了晶体硅太阳能电池模块的处于高电位差的状况。边框为正极电位、模块电路处于负*电位的状况。目前认为是由于超白钢化玻璃内的钠离子向电池侧迁移而引起劣化。(薄膜太阳能电池模块也被确认出现PID现象,但是发生劣化的机制与晶体硅太阳能电池模块不同。)现在,各种研究机构正在通过研究、试验查找PID现象的原因。
型号 | 规格 |
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TOS7210S (SPEC80776) | PID绝缘测试仪(TOS7210S)是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估, 以绝缘电阻测试仪(TOS7200)为基础设计而成的测试仪, 可在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范围内实施设定, 可通过面板侧的开关即时切换施加电压极性, 输出端子与接地电位间为浮地状态, 只测量通过测量点间的电流. 可对电流测量值或电阻测量值进行切换显示, 测试线(TL51-TOS)包括 |
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